反射式膜厚儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場(chǎng)合。A3-SR-100S可用于測量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達到0.1納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR-100S還可用于同時(shí)對折射率和膜厚進(jìn)行測量。配手持式探頭,A3-SR-100S可以用來(lái)一鍵式測量車(chē)燈罩表面硬化膜(包括過(guò)渡層)和背面的防霧層,精度達到0.02um, 只需1秒鐘,還可以測量?jì)蕊椉?外飾件的鋁陽(yáng)極氧化層和漆層的厚度,精度達到0.02um

　　反射式膜厚儀測量系統利用薄膜干涉光學(xué)原理，對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線(xiàn)。TF200根據反射回來(lái)的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

　　反射式膜厚儀的技術(shù)功能：

　　微電腦控制系統，大液晶顯示、PLC操作面板，方便用戶(hù)進(jìn)行試驗操作和數據查看。

　　嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時(shí)支持各種非標定制。

　　測試過(guò)程中測量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差。

　　支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測量模式，方便用戶(hù)自由選擇。

　　系統自動(dòng)進(jìn)樣，進(jìn)樣步距、測量點(diǎn)數和進(jìn)樣速度等相關(guān)參數均可由用戶(hù)自行設定。

　　實(shí)時(shí)顯示測量結果的較小值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶(hù)進(jìn)行判斷。

　　配置標準量塊用于系統標定，保證測試的精度和數據一致性。

　　系統支持數據實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統計、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測試結果。

　　標準的USB接口，便于系統與電腦的外部連接和數據。