反射式膜厚儀對材料表面起保護，裝飾作用的覆蓋層，如涂層，鍍層，敷層，貼層，化學(xué)生成膜等，在一些國家和國際標準中稱(chēng)為覆層。

　　覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確要求。

　　覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱(chēng)重法，X射線(xiàn)熒光法，β射線(xiàn)反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

　　反射式膜厚儀的使用注意事項：

　　1.零點(diǎn)校準

　　在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準，因為之前的測量參數會(huì )影響該次對物體的測量，零點(diǎn)校準可以消除前次測量有參數的影響，能夠降低測量的結果的誤差，使測量結果更加精確。

　　2.基體厚度不宜過(guò)薄

　　在使用反射式膜厚儀對物體進(jìn)行測量時(shí)基體不宜過(guò)薄，否則會(huì )極大程度的影響儀器的測量精度，造成數據結果不準確，影響測量過(guò)程的正常進(jìn)行。

　　3.物體表面粗糙程度

　　對于被測物體的表面不宜太過(guò)粗糙，因為粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了光學(xué)測量?jì)x的測量精度，造成很大的誤差。所以被測物體的表面應該盡量保持光滑，以保證測量結果的精確性。